X射线荧光分析层模型

摘要

本文给出了一种新的X射线荧光分析数学模型——层模型。在层状结构样品假设下借助算符和矩阵建立起来的非线性数学模型。层模型具有特点:(1)能够描述任意厚度样品的各次元素间效应(尤其是增强效应);(2)模型系数是具有清晰物理意义、独立于样品化学组分、可由标样测定的常数。非线性规戈4方法被用于设计层模型软件LM—88。通过用^(241)Am同位素源γ射线激发五元样品的能量色散X射线荧光分析,对层模型进行了验证,理论相对强度与实测相对强度的相对误差不超过7.00%