钒钛磁铁矿样品主、次元素的快速分析方法研究

摘要

采用SI-PIN半导体探测器、241Am激发源和2048通道分析器及自行研制的SI-PIN 2000便携式X荧光分析仪,对钒钛磁铁矿直接粉末样品中Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu等8个主、次元素进行了分析应用研究.文章叙述了所采用的直接粉末样品法的样品盒结构、基体校正的α系数计算方法、重叠干扰校正原则和漂移校正的方法,并且给出了所选择的分析条件和样品制备方法,分析过程简单、结果准确、分析速度快,特别适应矿山、冶金的生产原料分析需要,有良好的应用前景,与封闭正比计数器X射线荧光分析仪相比,检出限降低了1个数量级.