首页> 中文期刊> 《光谱学与光谱分析》 >加热过程中古代铜镜表面'锡汞齐'相变分析

加热过程中古代铜镜表面'锡汞齐'相变分析

         

摘要

利用可在常温至1 200℃下,对样品进行边加热边检测的θ-θ扫描(立式测角仪)密封陶瓷X射线管全自动衍射仪及X射线荧光,再结合表面形貌特征等对涂抹"锡汞齐"的高锡铜镜样品进行了检测分析,证明在加热到高于Hg的沸点时含汞物相会逐渐消失;说明铜镜或青铜器表层中有无Hg不能作为判断其是否采用过"锡汞齐"工艺的依据,并且从使用角度来看,铜镜涂抹"锡求齐"也没有必要.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号