土壤质地对多环芳烃荧光工作曲线影响的研究

摘要

土壤质地对多环芳烃(PAHs)的荧光检测造成不可忽视的干扰,论文在探究不同二氧化硅含量,相同菲浓度土壤样品荧光强度与漫反射率变化关系的基础上,建立了一种基于近红外漫反射光谱减小土壤质地对PAHs荧光强度影响的校正方法。校正前后荧光强度与PAHs浓度之间线性拟合的复相关系数R^(2)分别为5.42×10^(-6)和0.94。研究结果表明:所建立的校正方法可有效减小土壤中二氧化硅对荧光定量分析PAHs工作曲线的影响。