一种基于偶极子近场耦合法测量无源互调的方法

摘要

无源互调(PIM,Passive Intermodulation)是影响微波通信系统可靠性的关键问题之一.该文提出并实现一种利用近场耦合原理诊断接触结构待测件的PIM测量方法.该测量方法通过缝隙波导激励开口缝隙附近的接触结构,并同时在波导端面接收所产生的PIM信号,从而能方便地对不同物理接触状态的接触结构的PIM产物进行测试分析.并应用电磁商业仿真软件CST对PIM测试工装进行仿真验证,结果与基于偶极子的理论分析结论一致.最后利用铝合金接触结构开展了实验验证研究,获得了三、五阶PIM产物随载波功率的变化特性,实验验证了三阶和五阶PIM产物之差随载波功率降低而增大的变化规律.