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射频产品自动测试系统的校正方法及案例研究

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摘要

基于ATE射频CP测试的校准技术,通过辅助去嵌结构,使得在射频产品的CP测试过程中消除测试系统阻抗不匹配带来的测试误差.从而能够获得更准确的测试结果,最终提高测试良率,节约测试成本.

著录项

来源
《山东工业技术》 |2017年第24期|117|共1页
作者
孙秀伟;
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作者单位

南京恒电电子有限公司,南京210049;

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正文语种 chi
中图分类
关键词
射频技术; 自动测试; 校正;

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