基于FPGA的集成电路测试系统设计探讨

摘要

近年来，基于FPGA的集成电路测试系统设计问题得到了业内的广泛关注，研究其相关课题有着重要意义。本文首先对相关内容做了概述，分析了基于FPGA嵌入式IP的SOPC系统，并结合相关实践经验，分别从多个角度与方面就基于FPGA的集成电路测试系统设计展开了研究，阐述了个人对此的几点看法与认识，望有助于相关工作的实践。