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非致冷红外焦平面使用的CMOS读出电路噪声分析

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摘要

从微测辐射热计的红外辐射响应特性入手,分析其焦平面阵列的CMOS读出电路工作原理,指出读出电路的主要性能指标要求, 讨论影响性能的重要因素噪声的特点,为微测辐射热计焦平面阵列CMOS读出电路的设计奠定必要的理论基础.

著录项

来源
《科技创新导报》|2008年第13期|4-4|共1页
作者
郭荣新;
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作者单位

华侨大学信息学院,福建泉州,362021;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类红外系统装置;
关键词
非致冷红外焦平面; CMOS读出电路; 噪声;

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