Zernike矩在精密光学元件疵病边缘定位中的应用

摘要

介绍了zernike矩,总结了利用zernike矩在进行边缘检测得法的步骤.由于原zernike得法有其不足之处,针对其不足之处得到改进算法.改进后的zernike矩算法在定位边缘亚象素坐标更加准确.运用改进后的zernike矩对精密光学元件表面疵病进行边缘检测,实验结果表明该方法具有很好的抗噪性,而且使得边缘定位更加精确.