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基于故障注入及诊断的测试性研究

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本文主要介绍了故障注入与故障诊断在集成电路设计上的应用以及故障注入及故障诊断对于集成电路容错性和测试性设计的意义,将集成电路的测试性设计方法--边界扫描技术与故障注入和故障诊断的方法相结合,讲述了边界扫描、故障注入及故障诊断技术的电路原理.对电路系统测试性辅助设计进行了归纳和总结.

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来源
《科技信息》 |2011年第24期|727-728|共2页
作者
谢原安;
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作者单位

上海飞机设计研究院;

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正文语种 chi
中图分类
关键词
故障注入; 故障诊断; 测试性;

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