由高斯型波函数计算GaAs量子点中电子—空穴与声学声子的耦合特性

摘要

在固态—空腔量子电动力学系统中,研究半导体量子点跟固体环境中声学声子耦合时,通常忽略压电耦合,仅考虑形变势耦合.针对GaAs量子点的不同尺寸(12 nm或24 nm),由高斯型波函数出发并考虑电子和空穴局域化长度差别(δl=le-lh),计算并给出量子点跟声学声子两种耦合机制对应的声子谱函数,以及声子辅助量子点耦合空腔的散射率.结果发现δl/le取值变化(0.1或0.2)时,对于小尺寸量子点,压电耦合跟形变势耦合相比都可以忽略;对于大尺寸量子点中,δ1/le取0.2时压电耦合跟形变势耦合相比就变得不能忽略.