首页> 中文期刊> 《理科爱好者(教育教学版)》 >XRD 无损检测晶体材料残余应力实验过程问题浅析

XRD 无损检测晶体材料残余应力实验过程问题浅析

         

摘要

采用X射线衍射(XRD,X-ray diffraction)原理无损测量多晶体材料中残余应力,通过实际操作培养独立完成科学实验的能力。在实验过程中遇到了一些实际问题,通过查阅资料和讨论,弄清楚了出现问题的原因。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号