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集成电路辐射敏感度混响室测试方法

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介绍了混响室测试法的工作原理,并通过对GTEM法与混响室法的测试方法和测试结果的对比分析,表明混响室测试方法在1 GHz以上的高频范围测量集成电路(IC)的辐射敏感度更有优势.

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来源
《安全与电磁兼容》 |2014年第5期|74-76,84|共4页
作者
Teseq GmbH; Ralf Heinrich; Robert Bechly; 黄锐明;
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作者单位

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正文语种 chi
中图分类
关键词
混响室; 电磁兼容; 集成电路; 发射; 敏感度;

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