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Si(Li)探测器系统噪声的测量及低能X射线能量分辨的计算

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摘要

从实验和理论讨论分析了Si(Li)探测器、前置放大器的噪声对Si(Li)探测器的探测范围的影响,分析了目前国产Si(Li)探测器、前置放大器的噪声情况,得出我国目前探测器系统的噪声技术可以实现O、F等轻元素的测量,并计算了测量C、N元素时探测器系统的极限噪声值(对Fe源的5.894keV).

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来源
《辐射防护通讯》 |1994年第4期|102-105|共4页
作者
韩光武; 马受武; 卫增泉; 崔明启;
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作者单位

中科院近代物理研究所;

中科院近代物理研究所;

中科院近代物理研究所;

中科院高能物理研究所;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表;
关键词
Si(Li)探测器; 系统噪声; 低能X射线; FWHM;

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