首页> 中文期刊> 《青海科技》 >X-荧光光谱法测定硅铝钡合金中硅、铝、钡

X-荧光光谱法测定硅铝钡合金中硅、铝、钡

         

摘要

介绍了用X-荧光粉末压片法分析硅铝钡合金中硅、铝、钡的方法,对样品的制备条件、仪器的工作条件等进行了分析研究,并得出适用于生产的结论.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号