hok/sok-parDE增强鼠伤寒沙门菌菌毛编码质粒稳定性研究

摘要

将编码两个质粒稳定系统的融合基因克隆至表达鼠沙门菌Ⅰ型菌毛(fim)基因的质粒pAZ44中,获得pAZ44-h.将两质粒分别转化鼠伤寒沙门菌,连续培养144 h,每隔12 h转接1代,并取样,用抗性平板计数细菌,通过抗性检测质粒存在状况.结果发现,质粒pAZ44在细菌培养12 h～24 h后开始丢失,而含稳定系统的质粒pAZ44-h在连续培养10代或120 h都未发生丢失.表明aphA-hok-parDE序列显著增强了质粒的稳定性,为进一步研究鼠沙门菌Ⅰ型菌毛的功能奠定了基础.