谱线形成深度的理论及其应用（Ⅱ）：响应函数的发展

摘要

作为系列文章的第二篇，给出了响应函数概念的发展概貌及关于其意义的讨论。这一概念从以单纯考察表面观测量如何随定一深度处物理量的扰动作出反应发展到由此考虑可得出谱线参量结构方面的信息。