光源对迈克尔孙干涉仪测长的影响

陈西园; 崔玉广; 徐铁军; 高文贵

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光源对迈克尔孙干涉仪测长的影响

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简要地讨论了迈克尔孙干涉仪形成三种干涉花样的条件,并详细地分析了用迈克尔孙干涉仪测长时,光源的扩展对测量准确度及条纹的对比度的影响.

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来源
《物理实验》 |2000年第7期|44-46|共3页
作者
陈西园; 崔玉广; 徐铁军; 高文贵;
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作者单位

抚顺石油学院基础部,113001;

抚顺石油学院基础部,113001;

抚顺石油学院基础部,113001;

抚顺工业学校,113123;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类光学仪器;
关键词
迈克尔孙干涉仪; 测长; 扩展光源; 对比度; 准确度;

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