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叠栅条纹检测位移实验系统

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摘要

采用叠栅条纹技术可以实现对位移量进行精确测量和控制.从叠栅条纹的产生,光电信号的转换,到对信号的鉴零、编码、计数、显示和控制,可形成较完整的实时监测系统,实现高精度检测、控制位移量.

著录项

来源
《物理实验》 |2005年第5期|13-15|共3页
作者
李丰丽;
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作者单位

暨南大学,物理系,广东,广州,510632;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类干涉与衍射;
关键词
叠栅条纹; 电子细分; GAL;

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