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徐文松; 杨阳;
牛津仪器(上海)有限公司工业分析部;
X射线荧光光谱法; 硅层; 厚度; 测定; 表面张力; 表面涂布; 工艺质量; 生产过程;
机译:均相液-液萃取,然后用X射线荧光光谱法测定滤纸上的微滴,以同时测定少量金属
机译:使用能量分散X射线荧光光谱法使用磁性纳米粒子使用磁性纳米粒子进行微乳液 - 断裂和预浓度诱导的微乳液和预浓度的组合使用能量分散X射线荧光光谱法测定汽油样品中的CD,Cr,Cu和Pb
机译:C-V匹配法测定氢化纳米晶硅/晶体硅杂硅杂硅杂硅杂硅杂硅杂硅杂硅杂硅杂硅杂硅杂硅杂硅杂硅杂硅杂硅杂硅杂硅杂阳硅杂硅杂硅杂差二极管的偏移密度
机译:离子交换分离后X射线荧光光谱法测定地质材料中的稀土元素
机译:多孔硅气体传感器:层厚度和硅电导率的作用
机译:X射线荧光光谱法测定测量不确定度的测量不确定度用X射线荧光光谱法测定X射线荧光光谱法质量控制结果
机译:二次离子质谱法测定离子注入硅中的非晶层厚度
机译:X射线图像分析和X射线荧光光谱法测定层厚和评估层的降解过程
机译:监测通过湿涂法涂覆到锂离子电池单体制造中所用基材上的涂层厚度的方法,该方法包括在干燥之前用另外的测量头测量层厚度
机译:用于卷涂的紫外光固化顶部涂料树脂组合物,制备具有相同涂层厚度的涂膜的相同和卷涂钢板的方法
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