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熔融制样-X射线荧光光谱法测定直接还原铁中主次元素含量

         

摘要

应用熔融制样-X射线荧光光谱法测定了直接还原铁中主次元素的含量.样品置于铂金坩埚中,以四硼酸锂和偏硼酸锂为熔剂于1 050℃熔融20 min,将熔化的样品倒入铂金模具中,所制得的片样用于X射线荧光光谱分析.以铁矿石标准物质GBW 07221等25种标准物质制作校准曲线,以固定理论α影响系数法校正基体效应.方法用于实际样品的分析,所得结果与其他方法测定值相符.测定值的相对标准偏差(n=10)在0.31%~16%之间.

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