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用原位X射线衍射法对电化学插层过程的研究

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采用原位X射线衍射技术研究了石墨在65%HNO3中的电化学插(脱)层过程,提出了一套处理XRD图谱的数据处理方法.

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来源
《理化检验-物理分册》|2000年第10期|445-447|共3页
作者
苏玉长; 尹志民; 徐仲榆;
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作者单位

中南工业大学材料系,长沙,410083;

中南工业大学材料系,长沙,410083;

湖南大学新型炭材料研究所,长沙,410083;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类物理学;
关键词
原位X射线衍射; 电化学插(脱)层; 阶;
入库时间 2023-07-25 17:04:08

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