改进的阶梯相位去包裹算法研究

摘要

为减少投影条纹数量,提高测量速度,提出了一种改进的阶梯相位去包裹算法。算法采用彩色条纹投影测量物体三维形貌,将正弦和阶梯相位条纹分别输入彩色图像的红色和蓝色通道构成彩色条纹,由DLP投影仪将四步相移彩色条纹投影到待测物体上,由彩色CCD相机采集。利用颜色分离技术得到2组四步相移条纹图,其中一组为4幅正弦条纹,由四步相移法求得正弦条纹包裹相位,另一组4幅阶梯相位编码条纹图,由与正弦条纹周期一致的阶梯相位构成,经阶梯相位解码确定条纹级次,利用自校正算法去除条纹级次噪点后,实现相位去包裹。进行了实际测量,结果表明,本方法测量精度与采用四步相移法相当,但只需4幅条纹图,有效减少了投影和采集的条纹数量,提高了测量速度。