基于掩模图像的磁环表面缺陷提取研究

摘要

磁环表面缺陷图像具有对比度低、纹理背景复杂、缺陷种类多和亮度不均匀等特点,提出了一种基于掩模图像的磁环表面缺陷提取方法。首先,通过分析磁环表面图像中不同缺陷区域与正常区域的灰度差别,将磁环表面缺陷划分为两类,第1类为缺陷灰度值与正常区域差别大易分割,第2类为缺陷灰度值与正常区域灰度值差别小不易分割;其次,根据两类表面缺陷的成像特点以及与背景的关系,利用掩模技术分别设计了相应的缺陷提取方法;最后,在不同的光照、规格、缺陷类型及大小等方面,利用开发的样机进行了大量的在线实验。实验结果表明,本文缺陷提取算法稳定性好,鲁棒性强,能够准确、快速地提取出磁环表面图像各区域的缺陷,表面缺陷检测的准确率为95.3%。