利用高斯函数拟合荧光光谱诊断龈下结石的研究

摘要

以405nm发光二极管(LED)为激发光源,分别测量了正常牙齿和牙结石的荧光光谱,由于其荧光光谱均有较宽的荧光带,且相邻的荧光峰互相重叠,不易于分析比较。用高斯函数对其进行进一步分析对比,提出了6种诊断龈下结石的评价方法,并对6种方法的灵敏度进行了分析。研究结果表明,利用波长为676和486nm处的荧光强度之比诊断牙结石具有较高的灵敏度,这一比值可以作为诊断牙结石的检测标准。