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张春平; 商美茹;
南开大学物理系;
机译:利用稳定的外差Mach-Zehnder干涉仪同时识别各向异性和不透明磁流体薄膜的低场致复折射率的微小变化
机译:具有双轴对称性的薄膜的折射率测量。 2.使用透明波长范围内的偏振透射光谱确定膜的厚度和折射率
机译:FTIR光谱法测量透明半导体衬底上聚合物薄膜的折射率和吸收指数
机译:低折射率基材上石墨烯和石墨薄膜的光学测量
机译:过去的宝藏VII:通过椭偏仪测量非常薄膜的厚度和折射率以及表面的光学性质
机译:原位测量湿度引起的聚乙二醇薄膜折射率和厚度的变化
机译:在150-180℃光解作用下pbI sub 2薄膜的大折射率变化
机译:高稳定性干涉仪,用于测量折射率的微小变化
机译:利用全光扫描干涉测量及其记录介质来测量透明薄膜的3-D厚度轮廓和折射率的方法
机译:用于透明流体介质的空间折射率波动的三维测量装置的校准装置,具有空心体,该空心体具有额外的区域,外部尺寸根据规则变化
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