X射线荧光法测定镧改性分子筛中La2O3含量

摘要

以粉末试样压片制样,采用X射线荧光分析方法,测定镧改性分子筛中La2O3质量分数.结果表明,硅、铝、钠同时参加校正时获得最佳校正方程.X射线荧光分析方法的精密度小于1.00%,准确度偏差小于1.50%;其测定结果与采用化学法一致.