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双线扫描CCD测量远距离闪光点平均高度

         

摘要

为了准确测量远距离炸点平均高度,采用了双线扫描 CCD 成像的方法并建立了测量系统理论模型。首先采用了望远式成像光学系统对远距离炸点进行成像,采用柱面镜进行成像变换;采用Zemax软件对成像光路进行了模拟,模拟点列图结果表明了系统在物距为20 m时,能够在5 m范围内有效测量炸点光的平均高度。最后,采用曲线拟合的方法求出光斑中心位置并对测量系统进行了线性标定。经实验验证本测量系统可以在物距为20 m处测量炸点的平均高度最高约为3 m,测量精度可以达到1.95%。所设计的炸点平均高度测量系统满足了远距离、大范围的测量要求,系统运行稳定、可靠,采用双线阵CCD的测量方法有效的消除了物距不能确定的影响。%In order to measure the mean height of long distance burst, a double line scanning CCD measurement system is established and its theoretical model is built. First, telescopic optical system is used to image the burst, and the image is transformed by a cylindrical lens. Then, Zemax software is used to simulate the optical system, whose spot diagram show that the system can effectively measure the mean height of burst within 5 meters at a long distance of 20m. Finally, the spot center is acquired by means of the curve fitting and linear calibration is carried out for uncertain parameters of the system. Experimental results indicate that the maximal height is 3 m approximately at a long distance of 20 m. The mean error is 1.95%. The presented system can reach the acquirement of long distance and wide range. Furthermore, the uncertainty of distance can be eliminated naturally by using the double line scanning CCD system.

著录项

  • 来源
    《光电工程》 |2015年第5期|1-6|共6页
  • 作者单位

    天津大学 精密仪器与光电子工程学院 光电信息技术教育部重点实验室 天津大学;

    天津 300072;

    天津大学 精密仪器与光电子工程学院 光电信息技术教育部重点实验室 天津大学;

    天津 300072;

    天津大学 精密仪器与光电子工程学院 光电信息技术教育部重点实验室 天津大学;

    天津 300072;

    天津大学 精密仪器与光电子工程学院 光电信息技术教育部重点实验室 天津大学;

    天津 300072;

    天津大学 精密仪器与光电子工程学院 光电信息技术教育部重点实验室 天津大学;

    天津 300072;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 其他;
  • 关键词

    炸点平均高度; 线扫描CCD; 柱面镜; 曲线拟合;

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