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刘红婕; 王凤蕊; 耿峰; 周晓燕; 黄进; 叶鑫; 蒋晓东; 吴卫东; 杨李茗;
中国工程物理研究院激光聚变研究中心 四川绵阳621900;
荧光成像技术; 亚表面缺陷; 激光损伤; 熔石英; KDP晶体;
机译:磁流变抛光技术可消除熔融石英光学元件的表面和亚表面缺陷
机译:在客户专用光学元件上自动辨别表面缺陷和粘附颗粒
机译:胶态二氧化硅和二氧化铈抛光的熔融石英光学元件的表面缺陷表征和激光诱导的损伤性能
机译:无损光学技术在蓝宝石表面和亚表面缺陷检测中的应用
机译:单分子荧光成像的机制:从光学药物到生物应用
机译:离子轰击引起的表面和亚表面缺陷的光学探头
机译:基于CMP的光学元件亚表面缺陷分析及实验方法研究
机译:使用近场消逝波表征光学材料中的表面和亚表面缺陷
机译:制造反射性光学元件的方法,反射性光学元件,EUV光刻技术以及操作光学元件和EUV光刻技术的方法,确定相移的方法,确定方法和层的方法
机译:对象的光谱分离图像检测方法,例如用于生物技术中的光学和荧光成像,涉及在图像检测的光轴上向对象提供用户特定的光
机译:可同时检测光学组件的表面和亚表面缺陷的装置和方法
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