靶丸X射线光学厚度的精密检测

摘要

为了精密检测靶丸X射线光学厚度均匀性,建立了基于精密轴系和光纤阵列探测的靶丸X射线光学厚度检测装置,开展了光学厚度轮廓仪光路精密调校技术的研究,应用白光共焦光谱技术和光学显微成像技术,解决了气浮转台精密调整、X射线光路对中的难题,实现了对塑料靶丸壳层缺陷、表面质量、壁厚均匀性、壳层材料成分均匀性等多种耦合扰动综合效应的表征.对系统的稳定性进行了测试,实验结果表明,该系统的测量重复性偏差可基本控制在0.01％ 以内,空间分辨率约为100μm,满足IC F靶物理研究对靶丸X射线光学厚度扰动的高精度检测需求.