利用Pb1-xGexTe材料的折射率异常性质改善红外光学薄膜的低温性能

摘要

红外薄膜干涉滤光片性能在低温下的变化是空间遥感系统中的一个关键性问题.经研究表明IV-VI族半导体PbTe和GeTe的赝二元合金Pb1-xGexTe在铁电相变点具有折射率异常-相应于铁电相变,Pb1-xGexTe薄膜呈现出最大折射率值.用Pb0.94Ge0.06Te材料代替PbTe材料,制作了一个红外薄膜干涉滤光片.测试结果表明:其中心波长漂移从0.48nm/K改进到0.23nm /K,在所测量的80K～300K的温度范围,用Pb0.94Ge0.06Te材料制作的滤光片的峰透过率高于用PbTe材料制作的滤光片约3%,从而极大地改善了光学薄膜器件在深低温环境下的稳定性和可靠性.