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硒和薄膜晶体管阵列探测器的X射线成像特征

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摘要

1.引言随着数字电子传感器的发展.投影X射线透视领域发生了剧烈的变化。已研究出以胶片/屏系统为特征的技术和方法.包括胶片速度、调制传递函数(MTF)和探测量子效率(DQE)。对于数字电子成像系统,这些数据量还需重新研究:对于离散像元装置.

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来源
《光机电信息》 |1998年第5期|16-19|共4页
作者
白雨虹;
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作者单位

无;

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正文语种 CHI
中图分类应用;
关键词
X射线成像; 探测器; 硒; 晶体管阵列;

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