利用便携式D-D中子发生装置测试3He中子探测器的性能

摘要

对便携式D-D中子发生装置进行产额测试、验证及均匀性、稳定性测量,并将其用于对批量中子探测器的中子响应检测.实验结果表明:D-D中子发生装置的中子产额能够满足相关国标的要求;与252Cf中子源测试结果进行产额验证,偏差为-7.4％;D-D中子发生装置中子场的不均匀性为10％,中子产额的稳定性为7.0％;批量3 He中子探测器的检测结果表明采用D-D中子发生装置进行检测是可行的,可为中子发生装置代替同位素中子源对3 He中子探测器检测提供技术参考.