中能治疗水平X射线机发射率常数测定及MC模拟

摘要

为研究标准CCRI辐射质下发射率常数的量值以及变化规律,建立了中能治疗水平X射线辐射场,通过自由空气电离室测量空气比释动能率并计算X射线机发射率常数量值.用MC模拟方法模拟出X射线能谱并求得粒子的平均能量.结果 表明:治疗水平X射线机发射率常数随电子能量增大而增大,趋势趋于平缓并给出了标准CCRI辐射质下量值;用EGSnrc软件模拟标准CCRI辐射质下X射线能谱,附加过滤阻挡吸收低能粒子会使得能谱向右偏移,粒子数减少但平均能量变大.