首页> 中文期刊> 《核电子学与探测技术》 >BESIII Muon 前端电子学数据链过流保护系统设计

BESIII Muon 前端电子学数据链过流保护系统设计

         

摘要

This paper introduces the design of an overcurrent protector which can monitor the power supply of BESIII Muon front -end electronics and protect it against large current .The hardware and software designs of the overcurrent protector are showed in this article .In addition , the test result for major technical index of the overcurrent protector prototype is given in detail .%论文介绍了BESIII Muon前端电子学数据链过流保护系统的设计,其主要功能是监控数据链供电,防止数据链受大电流损伤。文章主要阐述了过流保护系统的软硬件设计,同时给出了过流保护系统原型机各项基本指标的测试结果。

著录项

  • 来源
    《核电子学与探测技术》 |2016年第1期|100-102|共3页
  • 作者

    陈颖; 习建博; 梁昊;

  • 作者单位

    中国科学院核探测技术与核电子学重点实验室;

    合肥230026;

    物理电子学安徽省重点实验室;

    中国科学技术大学近代物理系;

    合肥230026;

    中国科学院核探测技术与核电子学重点实验室;

    合肥230026;

    物理电子学安徽省重点实验室;

    中国科学技术大学近代物理系;

    合肥230026;

    中国科学院核探测技术与核电子学重点实验室;

    合肥230026;

    物理电子学安徽省重点实验室;

    中国科学技术大学近代物理系;

    合肥230026;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 印刷电路;
  • 关键词

    BESIII; Muon前端电子学; 过流保护系统; 原型机测试;

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号