复合绝缘子表面雾滴对其闪络路径的影响

摘要

自制雾霾模拟试验箱对复合绝缘子进行人工喷雾试验,模拟复合绝缘子在不同积污阶段受污情况,用升压法对其加压测其闪络电压,观察其闪络路径.根据所得试验结果又进一步设计了破坏憎水性试验和喷纯水试验.研究表明绝缘子伞叶上下表面均积污时,所喷雾水盐度越低其闪络电压值越高且发生空间击穿的概率也越高,盐度高时则相反.而仅伞叶上表面积污时,均发生空间击穿.然后用有限元分析软件对上述几种污染情况进行电场仿真,提出目前所谓的“不明闪络”也可能是水滴场致发射的作用所造成的.