双屏蔽法消除电容型套管介损测量误差

摘要

基于对电容型备用套管tanδ现场实测数据的统计对比,以及对实际试验回路、试验环境的分析,发现了套管下瓷套表面水膜与电容屏之间形成的寄生电容回路是引入测量误差的主要原因,并提出了一种误差消除的新方法——双屏蔽法.