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亚毫米波成像技术对工业排线的无损检测

         

摘要

利用亚毫米波准近场实时成像系统对三种常用的微小结构的工业电子排线进行检测,直接获得了样品在信号峰值处的强度图像.分别对样品中的金属、缺陷及包覆材料连接处抽取数据,并对其进行频谱及相位处理,在时域、频域及相位图中做了对比与分析.通过对原始图像进行图像处理后,分别得到振幅和相位图像,其中相位图像能更清晰地反映排线中隐藏的缺陷.结果证明,亚毫米波准近场成像系统可以用于具有细微结构材料的无损检测.

著录项

  • 来源
    《无损检测》 |2010年第2期|112-115|共4页
  • 作者单位

    太赫兹波谱与成像北京市重点实验室,北京,100048;

    太赫兹光电子教育部重点实验室,北京,100048;

    首都师范大学,物理系,北京,100048;

    太赫兹波谱与成像北京市重点实验室,北京,100048;

    太赫兹光电子教育部重点实验室,北京,100048;

    首都师范大学,物理系,北京,100048;

    哈尔滨工业大学,物理系,哈尔滨,150001;

    太赫兹波谱与成像北京市重点实验室,北京,100048;

    太赫兹光电子教育部重点实验室,北京,100048;

    首都师范大学,物理系,北京,100048;

    太赫兹波谱与成像北京市重点实验室,北京,100048;

    太赫兹光电子教育部重点实验室,北京,100048;

    首都师范大学,物理系,北京,100048;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 无损探伤;
  • 关键词

    亚毫米波; 准近场成像; 无损检测;

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