高纯纳米α-Al_2O_3的连续批量制备与表征

摘要

通过HLG-30型纳米化粉碎机批量制备纳米Al2O3,使用纳米激光粒度仪分析其粒度及粒度分布,并用扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)观察其大小和形貌,采用X射线衍射(XRD)表征其晶型结构,通过电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES)检测杂质元素的含量,研究其纯度。结果表明,制备所得的Al2O3粒度分布窄,大部分颗粒的粒径99.99%,具有广阔的应用前景。