中孔分子筛MCM41的电子显微观察

摘要

ＭＣＭ４１是近５年来发展起来的新型中孔分子筛材料。用电子显微学方法研究这类分子筛结构具有其他结构分析手段所没有的许多优点，例如直观性、局域性以及对纳米级孔道内载入的金属原子簇检测方面所显示的高分辨能力。对全硅、掺杂和受载等各种ＭＣＭ４１材料的电子显微象分析结果为基础，探讨该领域工作对开发新型中孔分子筛材料的贡献和今后的发展方向。