非接触式光学测量设备具有哪些特点？

摘要

在日常检测过程中，往往会碰到一些测量上的困难，比如测量一些薄、易变形或微细的部件，使用传统的卡尺去测量，效果并不理想。纵使拥有资深的测量员配合接触式的精密测量设备如CMM，亦会束手无策。