基于近场光分布法的光纤涂覆层几何参数测试

摘要

cqvip:光纤涂覆层几何参数测试,目前主要依据国际电工委员会标准IEC 60793-1-21,应用侧视法对光纤涂覆层,包括一次涂覆、二次涂覆几何性能进行测试。侧视法通过有限点拟合反映光纤涂覆层几何性能,可以表征一段光纤长度上的光纤涂覆层拟合平均性能。本文采用近场光分布法开展对光纤涂覆层几何参数的测试,并应用图像处理技术实现并优化。其测量结果和侧视法比较,测试结果基本一致。