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林延东; 姚和军;
中国计量科学研究院;
探测器; 陷阱探测器; 面响应均匀性; 测量;
机译:一种统计方法,可以在微带探测器中校正微带探测器中的X射线响应不均匀性,高精度和高分辨率总散射测量
机译:受缺陷陷阱和不均匀性影响的SiC晶体和辐射探测器中的载流子传输
机译:陷阱能级和缺陷不均匀性对SiC晶体和辐射探测器中载流子传输的影响
机译:低温辐射计的高精度测量GE和InGaAs陷阱探测器响应性
机译:数码摄影分析:用于测量饱和度对光响应不均匀性影响的分析框架。
机译:一种统计方法可校正微带探测器中X射线响应的不均匀性以进行高精度和高分辨率的总散射测量
机译:用于测量激光探测器响应和激光束尺寸均匀性的扫描系统
机译:用于测量激光探测器响应均匀性和激光束尺寸的扫描系统
机译:减少热成像探测器的信号响应非均匀性减少系统-使用每个探测器元件的参考输出电压之间存储的差异作为参考辐射值
机译:光电探测器的光谱特性测量装置和方法以及光电探测器的内量子效率测量装置和方法,能够提供均匀的光谱光并测量精确的光谱响应
机译:响应面计算程序,响应面计算装置和响应面计算方法
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