绝缘层厚度与芯线直径测量偏离方法的比对

摘要

本文探讨了绝缘层厚度与芯线直径测量装置的选择问题。通过采用不同的测量方法进行比对实验,证明只要用满足标准规定精度的测量仪器去测量,就能达到要求,并不一定要用读数显微镜,标准中方法是可以偏离的。