关于智能卡的自动化测试平台设计

摘要

传统的智能卡测试平台需要人工干预,严重影响测试效率,因此难以满足智能卡行业的测试需求.针对这个问题,在此提出一种新的解决方案.该方案以PC/SC为编程接口,实现了测试平台与智能卡的通信,利用扩展的TCL解释器定义了一种新的测试语言ATP,它包含TCL内置命令和应用程序的相关命令.测试人员可以利用ATP语言编写测试用例,在此平台上完成对智能卡的自动化测试.该方案已经得到实际验证.