基于灰色理论的电子设备寿命预测研究

摘要

利用灰色GM(1,1)模型预测可以有效缩短电子设备寿命试验时间,传统建模方法常常会有较大误差,主要因为序列光滑度的改进及背景值的构造存在问题。本文提出一种方法,采用正弦处理建模序列,对背景值进行近似构造,最终建立相应的新陈代谢模型。实例表明改进后的GM(1,1)模型,具有更高的预测精度,可以在电子设备的试验中推广应用。