非标器件S参数去嵌入测试方法研究

摘要

非标器件的S参数测试,需要重点考虑夹具效应对测试结果带来的影响.本文介绍了一种通过去嵌入的方式测试非标微波器件S参数的测试方法,通过与传统测试方法得到测试结果的比对,以及对该测试方法进行的不确定度分析,表明了该方法测试结果的准确度较高,且相比传统的测试方法,这种去嵌入化的测试方案对于测试夹具的加工精度要求不高,更具实用性,可应用于非标器件S参数测试中.