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邹玫玫; 黄进宇; 任凤莲;
中南工业大学;
湖南长沙 410083;
钨及其化合物; 杂质元素; 分析方法;
机译:从头开始搜索钼和钨中晶界处增强凝聚力的杂质元素
机译:通过电子探针微分析方法测定橄榄石中的杂质元素:借应阶段的测温
机译:高纯铜中杂质元素分析方法的建立及其性能
机译:碳水化合物碳化钨工具和磨损件的最新进展,为非织造布转换行业
机译:钨-亚烷基钨发色团和二元化合物的合成及其激发态性质
机译:硬质金属制造行业中的接触评估特别关注钨及其化合物
机译:电子显微镜研究钨三氧化钨胶体颗粒减少进展。 (电子显微镜研究氢气减少金属氧化物的进展。第四次报告)
机译:六氟化铀中六氟化钨钨和六氟氧化钼中六氟化钨的三点体积抑制曲线:分析方法的应用
机译:深度方向中杂质元素的浓度分析方法
机译:金属钠中杂质元素的分析方法
机译:通过分析认为,在组成液晶薄膜的液晶层中分布的杂质元素和使用薄膜层构成的液晶面板中的杂质元素的分析结果均小于或等于规定值
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