首页> 中文期刊> 《测控技术》 >双路扫描式激光测径仪系统设计

双路扫描式激光测径仪系统设计

         

摘要

针对企业对小型零部件生产线上的工件线径检测精度和稳定性问题,研制了一款基于ARM+FPGA的双路扫描式激光测径系统,用于解决扁平形漆包线线径的精确测量问题.该测径系统采用标准棒法测量原理,运用累加求和取平均值的处理算法,实现了工件线径的厚度和宽度双向检测,克服了单路激光测径系统测量范围受限等缺点.实验结果表明,该测径仪精度可达到0.001 mm,示值误差不超过±0.005 mm,稳定性能好,测量精度高,适合于生产线上小尺寸工件线径的精度检测.由于FPGA的快速数据处理能力,本系统特别适用于动态线材的尺寸监测.

著录项

  • 来源
    《测控技术》 |2019年第5期|72-76|共5页
  • 作者单位

    五凌电力有限公司近尾洲水电厂;

    湖南长沙410004;

    长沙理工大学物理与电子科学学院;

    湖南长沙410114;

    近地空间电磁环境监测与建模湖南省普通高校重点实验室;

    湖南长沙410114;

    长沙理工大学物理与电子科学学院;

    湖南长沙410114;

    近地空间电磁环境监测与建模湖南省普通高校重点实验室;

    湖南长沙410114;

    长沙亿旭机电科技有限公司;

    湖南长沙410000;

    近地空间电磁环境监测与建模湖南省普通高校重点实验室;

    湖南长沙410114;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 调整、测试;
  • 关键词

    激光测径; ARM+FPGA; 双路扫描; 标准棒法;

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号