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Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1
Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1
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1.
Three-dimensional machine vision utilising optical coherence tomography with a direct read-out CMOS camera
机译:
利用光学相干层析成像技术和直接读出的CMOS相机进行三维机器视觉
作者:
Patrick Egan
;
Fereydoun Lakestani
;
Maurice P. Whelan
;
Michael J. Connelly
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
optical coherence tomography;
full-field;
electronic scanning;
CMOS camera;
machine vision;
2.
Robust High-Precision 2D Optical Range Sensor
机译:
强大的高精度2D光学距离传感器
作者:
Markus Brner
;
Thomas Thurner
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
optical sensor;
structured light;
2D range sensor;
robust signal processing;
3.
Reconstruction of in-line hologram by using iterative algorithm
机译:
用迭代算法重建在线全息图
作者:
Yan Zhang
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
digital holography;
in-line holography;
reconstruction algorithm;
iterative algorithm;
4.
Reflectivity Function based Illumination and Sensor Planning for Industrial Inspection
机译:
基于反射率函数的工业检测照明和传感器计划
作者:
Marc M. Ellenrieder
;
Christian Woehler
;
Pablo dAngelo
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
automatic illumination positioning;
bidirectional reflectance distribution function;
non-Lambertian surfaces;
internal sensor settings;
visibility map;
inspection;
task planning;
5.
Profiling of gas turbine blade using phase shifting Talbot interferometric technique
机译:
使用相移Talbot干涉技术对燃气轮机叶片进行轮廓分析
作者:
Chra Shakher
;
D. S. Mehta
;
Saba Mirza
;
Priti Singh
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
phase shifting;
talbot interferometry;
fourier fringe analysis technique;
surface profiling;
6.
Phase evaluation using interference of polychromatic light and colorimetric analysis
机译:
利用多色光干涉和比色分析进行相位评估
作者:
Pavel Novak
;
Jiri Novak
;
Antonin Miks
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
optical testing;
phase evaluation;
colorimetry;
polychromatic light;
polarization interferometry;
7.
Optical distance measurements for closely spaced targets using a FMCW approach
机译:
使用FMCW方法对近距离目标进行光学距离测量
作者:
Robert Grosche
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
FMCW;
MUSIC;
optical sensor;
laser radar;
distance measurements;
8.
Optical high-speed 3D metrology in harsh environments Recording structural data of railway lines
机译:
恶劣环境中的光学高速3D计量记录铁路线的结构数据
作者:
H. Hoefler
;
C. Baulig
;
A. Blug
;
M. Dambacher
;
N. Dimopoulos
;
H. Woelfelschneider
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
optical measurement for railways;
phase detection for fast distance measurement;
laser scanning;
robustness of optical design;
9.
Novel Real-time Infrared Image Processor with ADSP
机译:
带有ADSP的新型实时红外图像处理器
作者:
GE Cheng-liang
;
FAN Guo-bin
;
LIU Zhi-qiang
;
LI Zheng-dong
;
WU Jian-tao
;
HUANG Zhi-wei
;
LIANG Zheng
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
infrared image processor;
real-time;
ADSP;
10.
Modern Approaches in Phase Measuring Metrology
机译:
相位测量计量学的现代方法
作者:
James Millerd
;
Neal Brock
;
John Hayes
;
Brad Kimbrough
;
Matt Novak
;
Michael North-Morris
;
James C. Wyant
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
interferometry;
optical testing;
metrology;
phase measurement;
measurement;
11.
Mirror shape detection by 'Reflection Grating Moire Method' with optical design validation
机译:
通过“反射光栅莫尔条纹法”检测镜面形状并进行光学设计验证
作者:
D. Fontani
;
F. Francini
;
D. Jafrancesco
;
L. Mercatelli
;
P. Sansoni
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
12.
Micro-optics metrology using advanced interferometry
机译:
使用高级干涉仪的微光学计量
作者:
Stephan Reichelt
;
Alexer Bieber
;
Bernd Aatz
;
Hans Zappe
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
micro-optics;
optical testing;
interferometry;
13.
Measurements from a novel interferometer for EUVL mirror substrates
机译:
新型干涉仪对EUVL镜面基板的测量
作者:
Max L. Krieg
;
Joseph J. M. Braat
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
interferometry;
EUVL;
phase shifting;
metrology;
14.
Microlenses metrology with digital holographic microscopy
机译:
用数字全息显微镜进行微透镜计量
作者:
Florian Charriere
;
Jonas Kuehn
;
Tristan Colomb
;
Frederic Montfort
;
Etienne Cuche
;
Yves Emery
;
Kenneth Weible
;
Christian D. Depeursinge
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
holography;
microscopy;
phase-contrast;
micro-optics;
15.
Influence of component imperfection on null ellipsometry with phase modulation
机译:
成分缺陷对调相零偏椭圆仪的影响
作者:
K. Postava
;
P. Hlubina
;
A. Maziewski
;
R. Ossikovski
;
M. Foldyna
;
O. Zivotsky
;
J. Pistora
;
S. Visnovsky
;
T. Yamaguchi
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
null ellipsometry;
phase modulation;
imperfect compensator;
PEM;
16.
Image focusing properties in reconstructing digital holograms
机译:
重建数字全息图中的图像聚焦特性
作者:
D. Alfieri
;
G. Coppola
;
S. De Nicola
;
P.Ferraro
;
A. Finizio
;
S.Grilli
;
G.Pierattini
;
V.Striano
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
17.
Full field, low frequency heterodyne interferometry using CMOS and CCD cameras with online phase processing
机译:
使用具有在线相位处理功能的CMOS和CCD摄像机进行全场,低频外差干涉测量
作者:
Fereydoun Lakestani
;
Maurice P. Whelan
;
Julie Garvey
;
David Newport
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
Full-field interferometry;
heterodyne;
CMOS camera;
phase measurement;
18.
Fiber optic spark plug sensor for UV-LIF-measurements close to the ignition spark
机译:
光纤火花塞传感器,用于靠近点火火花的UV-LIF测量
作者:
R. Reichle
;
C. Pruss
;
W. Osten
;
H. J. Tiziani
;
F. Zimmermann
;
C. Schulz
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
fiber optic sensor;
tracer LIF (laser induced fluorescence);
microoptical sensor;
UV-LIf;
19.
Fast three-dimensional phase-unwrapping algorithm based on sorting by reliability following a non-continuous path
机译:
基于非连续路径可靠性排序的快速三维相位展开算法
作者:
Hussein Abdul-Rahman
;
Munther Gdeisat
;
David Burton
;
Michael Lalor
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
fringe pattern analysis;
phase unwrapping;
20.
Edge enhancement of weak-phase object in laser scanning confocal microscope
机译:
激光扫描共聚焦显微镜中弱相物体的边缘增强
作者:
Masahide Itoh
;
Shin Uematsu
;
Hiroshi Ishiwata
;
Toyohiko Yatagai
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
laser scanning confocal microscope;
edge enhancement;
optical sectioning;
weak phase object;
defocus;
I-Z response;
OTf;
21.
Dimensional metrology for the fabrication of imaging optics using a high accuracy low coherence interferometer
机译:
使用高精度低相干干涉仪制造成像光学器件的尺寸计量
作者:
Rainer Wilhelm
;
Alain Courteville
;
Fabrice Garcia
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
low coherence interferometry;
partial coherence interferometry;
distance measurement;
thickness measurement;
optical metrology;
22.
Dispersive white-light interferometry for thin-film thickness profile measurement
机译:
色散白光干涉仪,用于薄膜厚度轮廓测量
作者:
Young-Sik Ghim
;
Seung-Woo Kim
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
interferometer;
dispersive white-light interferometry;
3-D surface profile measurement;
thin-film thickness profile measurement;
polarization;
23.
Dedicated Near-Field Microscopies for Electronic Materials and Devices
机译:
电子材料和设备的专用近场显微镜
作者:
Ludwig Josef Balk
;
Ronald Markus Cramer
;
Ralf Heiderhoff
;
Jacob CH Phang
;
Oleg Sergeev
;
Anne-Katrin Tiedemann
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
atomic force microscopy, near-field scanning microscopy, scanning photon emission microscoov. thermo-mechanical properties;
electronic devices;
functional materials;
24.
Confocal micro-optical distance sensor: principle and design
机译:
共焦微光学距离传感器:原理与设计
作者:
Aiko K. Ruprecht
;
Christof Pruss
;
Hans J. Tiziani
;
Wolfgang Osten
;
Peter Luecke
;
Arndt Last
;
Juergen Mohr
;
Peter Lehmann
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
confocal;
chromatic;
miniaturized;
point sensor;
fiber-optical;
25.
Confocal microoptical distance sensor: realization and results
机译:
共焦微光学距离传感器:实现与结果
作者:
Peter Luecke
;
Arndt Last
;
Juergen Mohr
;
Aiko K. Ruprecht
;
Christof Pruss
;
Hans J. Tiziani
;
Wolfgang Osten
;
Peter Lehmann
;
Sven Schoenfelder
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
hybrid;
chromatic;
confocal;
diffractive;
microoptical bench;
distance sensor;
LIGA;
26.
Comparison of B-Spline and Zernike fitting techniques in complex wavefront surfaces
机译:
复杂波前曲面中B样条和Zernike拟合技术的比较
作者:
M.Ares
;
S.Royo
;
J.Caum
;
C.Pizarro
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
wavefront reconstruction;
wavefront fitting;
zernike polynomials;
B-Spline;
27.
Application of matched digital filters to noisy fringe-patterns from complex wavefronts
机译:
匹配的数字滤波器在复杂波阵面噪声条纹图案中的应用
作者:
J.Caum
;
J.Arasa
;
S.Royo
;
M.Ares
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
fringe processing;
metrology;
optical testing;
discrete digital filters;
28.
Automatic tracing of interference fringes using Fourier filtering, local averaging and simultaneous horizontal and vertical scans
机译:
使用傅立叶滤波,局部平均以及水平和垂直同时扫描来自动跟踪干涉条纹
作者:
Arun An
;
Vani K Chhaniwal
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
interferogram;
fourier filtering;
fringe tracing;
gray level;
binary image;
29.
A New Approach for Simple and Rapid Shape Measurement of Objects with Surface Discontinuities
机译:
一种简单,快速的表面不连续物体形状测量的新方法
作者:
Sai Siva Gorthi
;
Kameswara Rao Lolla
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
shape measurement;
FFT analysis;
fringe pattern;
phase unwrapping;
color-coding;
surface discontinuities;
30.
2D parallel optical coherence tomography and multiple-layer information extraction
机译:
二维平行光学相干层析成像和多层信息提取
作者:
Shoude Chang
;
Xianyang Cai
;
Erroll Murdock
;
Costel Flueraru
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
optical coherence tomography;
image processing;
multiple-layer information extraction;
peeling algorithm;
31.
3D surface reconstruction based on combined analysis of reflectance and polarisation properties
机译:
基于反射率和偏振特性组合分析的3D表面重建
作者:
Pablo dAngelo
;
Christian Woehler
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
surface reconstruction;
polarisation vision;
shape from shading;
quality inspection;
32.
A compact frequency-stabilized Nd:YVO_4/KTP/I_2 laser at 532 nm for laser interferometry and wavelength standards
机译:
紧凑的稳频Nd:YVO_4 / KTP / I_2激光器,波长为532 nm,用于激光干涉测量和波长标准
作者:
Leonid F. Vitushkin
;
Oleg A. Orlov
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
33.
Wavelet Transform Analysis of Truncated Fringe Patterns in 3-D Surface Profilometry
机译:
3-D表面轮廓测量中截断条纹图案的小波变换分析
作者:
Sai Siva Gorthi
;
KameswaraRao Lolla
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
wavelet transform;
fringe projection;
surface profile;
FTP;
leakage effect;
phase demodulation;
WTP;
34.
White-light spectral interferometric technique used to measure the dispersion of the group birefringence of a uniaxial crystal
机译:
白光光谱干涉技术,用于测量单轴晶体基团双折射的色散
作者:
Petr Hlubina
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
spectral interferometry;
white-light source;
michelson interferometer;
low-resolution spectrometer;
equalization wavelength;
calcite crystal;
group birefringence;
35.
THE FOCUSING ACTION OF REFRACTIVE MICROLENS BY RIGOROUS METHOD
机译:
严格方法对折射微透镜的聚焦作用
作者:
Juan Liu
;
Ben-Yuan Gu
;
Bi-Zhen Dong
;
Guo-Zhen Yang
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
focusing action;
refractive microlens;
boundary element method;
36.
Study of polarizing intercorrelative function of coherent images of phase-inhomogeneous layer anisotropy
机译:
相异质层各向异性相干图像的偏振互相关函数研究
作者:
O.V. Angelsky
;
A.G. Ushenko
;
I. M. Vashenko
;
L. M. Bodnar
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
biotissue;
power spectrum;
fibrillae;
statistical moment;
37.
Polarizing-correlative processing of images of statistical objects in the problem of visualization and topology reconstruction of their phase heterogeneity
机译:
统计对象的图像的极化相关处理在其相异质性的可视化和拓扑重建问题中
作者:
O.V. Angelsky
;
A.G. Ushenko
;
I. M. Vashenko
;
L. M. Bodnar
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
biotissue;
tomography;
power spectrum;
uniaxial crystal;
fibrillae;
38.
Optical 3D sensor for large objects in industrial application
机译:
适用于工业应用中大型物体的光学3D传感器
作者:
Peter Kuehmstedt
;
Matthias Heinze
;
Michael Himmelreich
;
Christian Braeuer-Burchardt
;
Peter Brakhage
;
Gunther Notni
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
self calibration;
virtual reference points;
fringe projection;
complete around measurement;
automatic system;
39.
New method of structure light measurement system calibration based on adaptive and effective evaluation of 3D-phase distribution
机译:
基于3D相位分布自适应有效评估的结构光测量系统标定新方法
作者:
Robert Sitnik
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
shape measurement;
3D-scaner;
calibration;
absolute phase scaling;
fringe projection;
40.
Illumination-based segmentation of structured surfaces in automated visual inspection
机译:
自动化视觉检查中基于照明的结构化表面分割
作者:
Christoph Lindner
;
Javier Arigita
;
Ferno Puente Leon
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
segmentation;
illumination series;
automated visual inspection;
pattern recognition;
pixel classifi-cation;
41.
Improved optical linewidth measurement by means of alternating dark field illumination and model-based evaluation
机译:
通过交替的暗场照明和基于模型的评估来改进光学线宽测量
作者:
Gerd Ehret
;
Bernd Bodermann
;
Werner Mire
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
dark field microscopy;
optical CD measurement;
rigorous grating diffraction;
42.
Industrial inspection of specular surfaces using a new calibration procedure
机译:
使用新的校准程序对镜面进行工业检查
作者:
Petra Aswendt
;
Rol Hoefling
;
Soeren Gaertner
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
reflectometry;
calibration;
specular surface;
3-D shape;
43.
High-accuracy profile form measurement by a scanning system consisting of an angle sensor and coupled distance sensors
机译:
通过由角度传感器和耦合距离传感器组成的扫描系统进行高精度轮廓测量
作者:
Joachim Gerhardt
;
Ralf Geckeler
;
Michael Schulz
;
Clemens Elster
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
distance sensor;
topography;
angular measurement;
least-squares;
high resolution;
high accuracy;
44.
High-resolution lensless Fourier-transform digital holography
机译:
高分辨率无透镜傅里叶变换数字全息
作者:
Istvan Banyasz
;
Janos Kornis
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
digital holography;
holographic microscopy;
high-resolution holography;
numerical hologram reconstruction;
fresnel-kirchhoff integral;
45.
High-speed and line-feed Fourier domain optical coherence tomography
机译:
高速和换行傅里叶域光学相干断层扫描
作者:
Yoshiaki Yasuno
;
Shuichi Makita
;
Takashi Endo
;
Gouki Aoki
;
Masahiro Yamanari
;
Yoshifumi Nakamura
;
Masahide Itoh
;
Toyohiko Yatagai
会议名称:
《》
|
2005年
关键词:
optical coherence tomography;
Fourier-domain optical coherence tomography;
Spectral-domain optical coherence tomography;
frequency domain optical coherence tomography;
46.
Gated heterodyne coherent anti-Stokes Raman scattering for high-contrast vibrational imaging
机译:
门控外差相干反斯托克斯拉曼散射,用于高对比度振动成像
作者:
Marco Greve
;
Bernd Bodermann
;
Harald R. Telle
;
Peter Baum
;
Eberhard Riedle
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
coherent anti-Stokes Raman scattering;
coherent optical effects;
parametric oscillators and amplifiers;
interference;
four-wave mixing;
47.
Grid-Pattern Design for Fast Scene Reconstruction by a 3D Vision Sensor
机译:
通过3D视觉传感器快速重建场景的网格模式设计
作者:
Qiu Guan
;
ShengYong Chen
;
Wanliang Wang
;
Y. F. Li
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
grid pattern;
fast sensing;
light projection;
3D vision sensor;
scene reconstruction;
48.
Evaluation of spectral modulated interferograms by the extended Kalman filtering method
机译:
扩展卡尔曼滤波方法评估频谱调制干涉图
作者:
Igor Gurov
;
Petr Hlubina
;
Mikhail Taratin
;
Alexey Zakharov
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
spectral fringes;
extended Kalman filter;
unwrapped fringe phase;
49.
Development of measurement of micro-structure using moire topography in SEM
机译:
在扫描电镜中使用莫尔形貌测量微结构的开发
作者:
Yasuhiko Arai
;
Shunsuke Yokozeki
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
shadow moire;
SEM;
fringe scanning;
MEMS;
50.
Determination and applications of contoured windows for ESPI fringe pattern processing
机译:
用于ESPI条纹图案处理的轮廓窗的确定和应用
作者:
Qifeng Yu
;
Xia Yang
;
Xiaohu Zhang
;
Sihua Fu
;
Xiangyi Sun
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
contoured windows;
fringe pattern;
fringe direction;
phase-shifting;
ESPI;
51.
Application of super image methods in digital holography
机译:
超像法在数字全息中的应用
作者:
Janos Kornis
;
Balazs Gombkoetoe
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
52.
An objective measure of the quality of honed surfaces
机译:
珩磨表面质量的客观衡量
作者:
Ferno Puente Leon
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
honed surfaces;
cylinder bores;
quality assessment;
texture decomposition;
feature extraction;
image processing;
automated visual inspection;
53.
An online laser caliper measurement for the paper industry
机译:
造纸行业的在线激光测径仪测量
作者:
Jussi Graeffe
;
Seyhan Nuyan
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
caliper;
paper thickness;
laser triangulation;
54.
Absolute Distance Metrology for Space Interferometers
机译:
空间干涉仪的绝对距离计量
作者:
Bas L. Swinkels
;
Nini Bhattacharya
;
Arno A. Wielders
;
Joseph J.M. Braat
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
absolute distance metrology;
Fabry-Perot cavity;
laser stabilization;
55.
A long standoff profilometer for surface inspection in adverse environments based on Conoscopic holography
机译:
基于锥形全息术的用于恶劣环境中表面检查的长距离轮廓仪
作者:
Jose M. Enguita
;
Ignacio Alvarez
;
Cesar Fraga
;
Jorge Marina
;
Yola Fernez
;
Gabriel Sirat
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
optical metrology;
conoscopic holography;
industrial inspection;
dimensional control;
56.
A focus sensor for an application in a nanopositioning and nanomeasuring machine
机译:
用于纳米定位和纳米测量机器的聚焦传感器
作者:
Rostyslav Mastylo
;
Denis Dontsov
;
Eberhard Manske
;
Gerd Jaeger
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
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2005年
关键词:
measuring machine;
interferometer;
nanomeasuring technique;
hologram laser unit;
focus sensor;
57.
A compact electronic speckle pattern interferometry system using a photopolymer reflection holographic optical element
机译:
使用光聚合物反射全息光学元件的紧凑型电子散斑图案干涉系统
作者:
Sridhar Reddy Guntaka
;
J.Raghavendra
;
Vincent Toal
;
Izabela Naydenova
;
Suzanne Martin
;
S.Mintova
会议名称:
《Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV pt.1》
|
2005年
关键词:
ESPI;
photopolymer;
vibration modes;
HOE;
reflection hologram;
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